失效分析是对已失效产品进行的一种事后检查。使用电测试以及先进的物理、金相和化学的分析技术,找出失效机理和失效原因,并在生产工艺、器件设计、试验或应用方面提出行之有效的改进措施,防止失效重复出现,提高电子产品和整机设备的可靠性。
适用范围:
分立元件(阻、容、感、继电、接插件敏感元件);
分立器件(小、中、大功率晶体管敏感器件);
集成电路;
射频微波器件;
各种电源/光电模块等;
各类型电子产品。
v失效:产品失去规定的功能。
v失效分析:为确定和分析失效器件的失效模式,失效机理,失效原因和失效性质而对产品所做的分析和检查。
v失效模式:失效的表现形式。
v失效机理:导致器件失效的物理,化学变化过程。
v失效原因:导致发生失效的直接原因,它包括设计,制造,使用和管理等方面的问题。
v失效分析的目的:失效分析是对失效器件的事后检查,通过失效分析可以验证器件是否失效,识别失效模式,确定失效机理和失效原因,根据失效分析结论提出相应对策,它包括器件生产工艺,设计,材料,使用和管理等方面的有关改进,以便消除失效分析中所涉及到的失效模式或机理,防止类似失效的再次发生。